Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://biblio.umsf.dp.ua/jspui/handle/123456789/5913
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorShapoval, Alexander-
dc.contributor.authorSavchenko, Iurii-
dc.contributor.authorMarkov, Oleg-
dc.date.accessioned2023-10-13T08:54:48Z-
dc.date.available2023-10-13T08:54:48Z-
dc.date.issued2023-10-13-
dc.identifier.citationMarkov Oleg, Savchenko Iurii, Markov Oleg (2021). Determination Coefficient of Stress Concentration Using a Conformed Display on a Circle of a Single Radius. Solid State Phenomena, Vol. 316, pp 928-935uk_UA
dc.identifier.issn1662-9779-
dc.identifier.urihttp://biblio.umsf.dp.ua/jspui/handle/123456789/5913-
dc.description.abstractDeveloped a mathematical model, which makes it possible to optimize, from the point of view of defect formation, the parameters of stress concentration in a deformable elastic body of the materials being processed, destruction is considered as a method for creating defects at a submicroscopic level in various media. Getting expressions of conformal reflection of single circle on an arbitrary area, using a conformal reflection and transformation of Laplace, it is possible to design behavior of a tensely deformed state of solid at the arbitrary loading.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherTrans Tech Publications Ltd, Switzerlanduk_UA
dc.relation.ispartofseriesSolid State Phenomena;Vol. 316, 2021-
dc.subjectmathematical modeluk_UA
dc.subjectheterogeneous mediumuk_UA
dc.subjectdefect formationuk_UA
dc.subjectcoefficient of stress concentrationuk_UA
dc.subjectconformal display on a circle of a single radiusuk_UA
dc.titleDetermination Coefficient of Stress Concentration Using a Conformed Display on a Circle of a Single Radiusuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Розташовується у зібраннях:Кафедра кібербезпеки та інформаційних технологій

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Scopus_6_SSP.316.928.pdf442,63 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.