Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://212.1.86.13:8080/xmlui/handle/123456789/5913
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Shapoval, Alexander | - |
dc.contributor.author | Savchenko, Iurii | - |
dc.contributor.author | Markov, Oleg | - |
dc.date.accessioned | 2023-10-13T08:54:48Z | - |
dc.date.available | 2023-10-13T08:54:48Z | - |
dc.date.issued | 2023-10-13 | - |
dc.identifier.citation | Markov Oleg, Savchenko Iurii, Markov Oleg (2021). Determination Coefficient of Stress Concentration Using a Conformed Display on a Circle of a Single Radius. Solid State Phenomena, Vol. 316, pp 928-935 | uk_UA |
dc.identifier.issn | 1662-9779 | - |
dc.identifier.uri | http://biblio.umsf.dp.ua/jspui/handle/123456789/5913 | - |
dc.description.abstract | Developed a mathematical model, which makes it possible to optimize, from the point of view of defect formation, the parameters of stress concentration in a deformable elastic body of the materials being processed, destruction is considered as a method for creating defects at a submicroscopic level in various media. Getting expressions of conformal reflection of single circle on an arbitrary area, using a conformal reflection and transformation of Laplace, it is possible to design behavior of a tensely deformed state of solid at the arbitrary loading. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Trans Tech Publications Ltd, Switzerland | uk_UA |
dc.relation.ispartofseries | Solid State Phenomena;Vol. 316, 2021 | - |
dc.subject | mathematical model | uk_UA |
dc.subject | heterogeneous medium | uk_UA |
dc.subject | defect formation | uk_UA |
dc.subject | coefficient of stress concentration | uk_UA |
dc.subject | conformal display on a circle of a single radius | uk_UA |
dc.title | Determination Coefficient of Stress Concentration Using a Conformed Display on a Circle of a Single Radius | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Кафедра кібербезпеки та інформаційних технологій |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Scopus_6_SSP.316.928.pdf | 442,63 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.